簡(jiǎn)要描述：VR組件外觀檢查機(jī)主要用于檢測(cè)組件外觀缺陷（組件內(nèi)異物、L1凸面劃傷、PSA貼附偏移、PSA貼附鼓包、PSA貼附凹坑（異物）、L1脫膜、臟污/指紋、L1膠水等）

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　　VR組件外觀檢查機(jī)主要用于檢測(cè)XR光機(jī)模組各生產(chǎn)工序后的外觀缺陷檢測(cè)，包括組件內(nèi)異物、L1凸面劃傷、PSA貼附偏移、PSA貼附鼓包、PSA貼附凹坑(異物)、L1脫膜、臟污/指紋以及L1膠水等缺陷。設(shè)備采用高分辨率視覺(jué)系統(tǒng)以及多組照明系統(tǒng)進(jìn)行360°清晰成像并結(jié)合高精度算法實(shí)現(xiàn)缺陷精準(zhǔn)識(shí)別并實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品OK/NG自動(dòng)分揀。最終實(shí)現(xiàn)漏檢≤0.3%，過(guò)檢≤5%，設(shè)備UPH≥550的性能指標(biāo)。此設(shè)備可應(yīng)用于各類XR模組外觀缺陷檢測(cè)。

　　1.高分辨多照明成像系統(tǒng)：

　　VR組件外觀檢查機(jī)采用高分辨率相機(jī)和專用鏡頭，同時(shí)設(shè)備搭配6套不同照明系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)大視野范圍高分辨率、高對(duì)比度各類缺陷清晰成像。目前設(shè)備可兼容直徑40~65mm范圍大尺寸非規(guī)則自由曲面鏡片。

　　2.超大景深層析成像技術(shù)：

　　設(shè)備采用快速層析成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)XR產(chǎn)品厚度方向全景深掃描，準(zhǔn)確識(shí)別鏡片各表面缺陷及其位置，完成缺陷在各深度位置的區(qū)分和缺陷檢出。

　　3.專業(yè)化圖像處理算法：

　　基于SUNNY自研算法庫(kù)，采用傳統(tǒng)算法與高性能深度學(xué)習(xí)自研算法相結(jié)合的檢測(cè)模式，實(shí)現(xiàn)缺陷的精準(zhǔn)識(shí)別并有效解決深度學(xué)習(xí)算法訓(xùn)練數(shù)據(jù)難以搜集，算法上線緩慢問(wèn)題。